文章摘要
张强,刘振军,董欢庆,马留英,李猛坤.希捷瓦记录磁盘评测[J].高技术通讯(中文),2017,27(5):
希捷瓦记录磁盘评测
  
DOI:
中文关键词: 瓦记录(SMR), 瓦记录磁盘, 写覆盖, 原地更新
英文关键词: 
基金项目:
作者单位
张强  
刘振军  
董欢庆  
马留英  
李猛坤  
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中文摘要:
      分析了可提升磁盘存储密度的瓦记录(SMR)技术的优势及局限性,指出SMR 采用部分叠加相邻磁道的方式增大磁盘的面密度, 但是这也带来了写覆盖(Write Overlay)问题,即更新某一磁道上的数据时会覆盖相邻磁道上的有效数据,导致瓦记录磁盘(SWD)无法支持原地更新,使其非顺序写性能受到影响。为了促进该技术的应用,通过Fio和Filebench测试工具,对SMR技术的代表性产品——希捷瓦记录磁盘(SSWD)做了比较全面的测试,并对多种应用场景下SSWD 的性能做了详细的测试和分析,以便为SSWD在数据中心的应用提供重要的参考。
英文摘要:
      
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